sid4-swir-hr高分辨近红外波前分析仪
基于phasics砖利的四波横向剪切干涉技术和高质量的ingaas探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，sid4 swir提供了光谱范围从0.9到1.7μm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
   sid4-swir                             光学器件测量                  自适应光学
sid4-swir-hr高分辨近红外波前分析仪特点：
由于其独特的砖利技术，phasics的sid4-swir波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：160x128测量点
2.高灵敏密度：整个光谱范围内相位噪声低于2nm
3.消色差：0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm）
4.紧凑：易于集成
应用：
透镜测试：sid4 swir波前分析仪实时测量光学元件mtf和畸变。适用于光通信，夜视和其他军事和监视设备。无色差，sid4 swir涵盖所有光通信波长。
激光束测试：sid4 swir也可以短波红外光源，像1.55μm激光器或用于激光导向系统的led。
sid4-swir产品参数：
波长范围
0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm）
通光孔径
9.6 x 7.68 mm2
空间分辨率
60 μm
采样点（相位/强度）
160 x 128 (> 19 000 points)
相位相对灵敏度
<2nm rms
相位精度
15nm rms
动态范围
100μm
采样频率
120 fps
实时分析频率
7 fps (full resolution)
数据接口
giga ethernet
尺寸(w x h x l)
100 x 55 x 63 mm
重量
455g

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上海屹持光电技术有限公司